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  • 方塊電阻測試儀-四探針法功能說明

    發布時間: 2021-04-28 14:35:24 點擊: 27
    方塊電阻的計算方法
    方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值,該數值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
     
    方塊電阻的計算方法:
     
    方塊電阻:Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度)
    或者寫成電導率的表達式:Rs = 1/(σt)
    這樣 在計算塊材電阻的時候,我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到,計算過程與維度無關:
    R=Rs*L/W(L為塊材長度,W為塊材寬度)
     
    方塊電阻測試儀是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、 ITO 導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏,直觀度數,穩定性好,可以外接其他控制單元,與其他系統集成使用;適用于覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜等。

    方阻測試新產品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護,在寬廣的量程范圍內,使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結果。

    由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電均不相同,因此測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭,,測試電壓和測試電均可連續調節,給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。

    由于儀器設有恒源開關,并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電接通的功能,充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產生的電火花而受到損壞
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